Plateforme d'ANalyse
des Matériaux
(PANAM)

 

La Plateforme d’ANAlyse des Matériaux (PANAM) regroupe les moyens avancés d’analyse structurelle (cristallographique et morphologiques) et chimique des matériaux à l’échelle atomique.  Les techniques mises en oeuvre sont la diffraction des rayons X, la microscopie électronique en transmission, la microanalyse et la microscopie à force atomique. Ces activités sont indispensables pour l’évaluation et la qualification des nouveaux matériaux et des méthodes d’élaboration.
 
La plateforme PANAM fait partie de la Centrale de Technologie du C2N et est rattachée au Département Matériaux.
La plateforme est composée de 2 ingénieurs (Christophe David et Ludovic Largeau).
Ludovic Largeau est responsable de la plateforme.

 

Expertise PANAM :

X-RAY DIFFRACTION (XRD)
X-RAY REFLECTIVITY (XRR)

Member : Ludovic LARGEAU

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY (TEM)

Member : Ludovic LARGEAU

ATOMIC FORCE MICROSCOPY (AFM)

Member : Christophe DAVID