Plateforme d'ANalyse
des Matériaux
(PANAM)

 

La Plateforme d’ANAlyse des Matériaux (PANAM) regroupe les moyens avancés d’analyse structurelle (cristallographique et morphologiques) et chimique des matériaux à l’échelle atomique.  Les techniques mises en oeuvre sont la diffraction des rayons X, la microscopie électronique en transmission, la cathodoluminescence et la microscopie à force atomique. Ces activités sont indispensables pour l’évaluation et la qualification des nouveaux matériaux et de leurs méthodes d’élaboration.
 
La plateforme PANAM fait partie de la Centrale de Technologie du C2N et est rattachée au Département Matériaux.
La plateforme est composée de 4 ingénieurs (Christophe David, Nathaniel Findling, Ludovic Largeau, Stefano Pirotta).
Ludovic Largeau est responsable de la plateforme.

 

Expertise PANAM :

DIFFRACTION PAR RAYONS X (DRX)
REFLECTOMETRIE DES RAYONS X (XRR)

Responsable : Ludovic LARGEAU

MICROSCOPiE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION (MET)

Responsable : Ludovic LARGEAU

MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE (AFM)

Responsable : Christophe DAVID

CATHODOLUMINESCENCE RESOLUE EN TEMPS (RTCL)

Responsable : Stefano Pirotta